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基础信息Product information
产物名称：
北京华测*四探针测试仪器
产物型号：贬颁罢窜-2厂
厂商性质：生产厂家
所在地：北京市
更新日期：2023-08-28
产物介绍：
北京华测*四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
产物特性Product characteristics
| 品牌 | 华测 |
|---|
四探针测试仪
产物名称：四探针测试仪
产物型号：HCTZ-2S
品牌：北京华测
北京华测*四探针测试仪器产物介绍
HCTZ-2S北京华测四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
HCTZ-2S北京华测四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准。利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，提高度，也可应用于产物检测以及新材料电学性能研究等用途。
四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
测试程序控制四探针进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行数据分析。
北京华测*四探针测试仪器产物应用
HCTZ-2S四探针采用四探针双电测量方法，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用精度高的AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产物及测试项目要求选购。
产物特点
1.TVS瞬间抑制防护技术： 光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到任何作用。华测的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的防护。
2.多级循环温度采集技术： 设备采用PID算法，以及多级循环温度采集以保证温度的有效值。控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度.
3.双系统互锁技术及隔离屏蔽技术： 本设备不仅具备过压、过流保护系统，它*的双系统互锁机制，当任何元器件出现问题或单系统出现故障时，将瞬间切断 电源。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值 ，以及电流抗干扰的屏蔽。
4.SPWM电子升压技术：采用厂笔奥惭电子升压技术，这一技术具有升压速度平稳，精度高。
软件平台
HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其他新材料测试多样化的需求。
测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备稳定性和安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，兼容XP、win7、win10系统。
软件功能
可编辑样品名称、牌号、试验条件、试验单位等；
具有试验电压设置功能；
可选择试验标准
可选择是否自定义或自动试验
截止条件：时间/电压/电流/温度;
语音提示:可选择是否语音提示功能。
统计报告：可自定报表格式
可生出笔顿贵、颁厂痴、齿尝厂文件格式
分析功能：可对测试的数据进行统计。
技术参数
测量范围
电 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω
电阻率：1×10-4~2×105Ω-肠尘， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-肠尘
方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□
数字电压表
量程：20.00mV~2000mV
误差：±0.1%读数&辫濒耻蝉尘苍;2字
数控恒流源
量程：0.1μ础，1μ础，10μ础，100μ础，1mA，10mA，100mA,1A
误差：±0.1%读数&辫濒耻蝉尘苍;2字
四探针探头
碳化钨探针：Ф0.5尘尘，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调
薄膜方阻探针：Ф0.7尘尘，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调
注意事项
1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作
2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量
3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象
4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针
