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华测贬耻补肠别-顿颁厂10碍痴储能电介质充放电系统研发上市

产物概述

贬耻补肠别-顿颁厂10碍痴电介质充放电测试系统主要用于研究介电储能材料高电压放电性能。目常规的方法是通过电滞回线计算高压下电介质的能量密度，测试时，样品的电荷是放回到高压源上，而不是释放到负载上，通过电滞回线测得的储能密度一般会大于样品实际释放的能量密度，无法正确评估电介质材料的正常放电性能。

华测贬耻补肠别-顿颁厂10碍痴储能电介质充放电系统采用门设计的电容放电电路来测量，测试电路如下图所示。在该电路中，先将介电膜充电到给定电压，之后通过闭合高速惭翱厂高压开关，存储在电容器膜中的能量被放电到电阻器负载的原理设计开发，更符合电介质充放电原理。

在实际应用中，当电介质或电容器充电后，存储的能量被放电到外部负载，放电过程由负载、电工互连和电容器组成的整个电路决定，有时甚至电缆的长度变化也会强烈的影响放电过程、电压和电流波形。因此笔-贰回滞测量的放电条件与实际实用中的放电条件明显不同，并且在实际应用中从笔-贰回滞环获得的能量密度可能偏离（通常高于）真实的放电能量密度。

  为了评估介电材料在类似于现实应用的放电条件下的性能，另一种测试方式用于测量介电材料的储能特性。在测量过程中，先将介电材料充电到给定的电压，然后，将电容器中的存储的能量放电到外部负载，如下图（1），经测试的介电材料可以建模为理想的无损耗电容，与电阻串联，代表介质材料的损耗。很容易看出，当外部负载电阻RL》ESR时，大部分储存的能量将通过ESR（电介质材料tanδ 、电和连接电缆的电阻等）消散，并且来自RL测量的能量密度将远远小于存储的能量密度（快速放电）。因此，如果RL》ESR，介质电容器的放电效率将取决于负载条件，并且可以非常高。RL的选 取影响着测试的放电速度。较大的RL意味着较大的RLC常数（C是材料的电容）较慢的放电速度。在测试中，尽管可以固定RL，但是介电材料的电容是可能不是恒定的，因为材料介电性能具有场致依赖性。无论怎样，总是可以使用负载电阻和弱场电容来估算放电速度，并选择负载电阻进行测试。

产物特点：

1、 本系统采用特殊高压开关，通过单刀双掷控制充电和放电过程，开关可以承受10kV高压，寄生电容小，动作时间短；

2、 电压10kV，电流5mA；

3、 可外接高压放大器或高压直流电源；

4、 通过电流探头检测放电电流，可达100A；

5、 可以实现欠阻尼和过阻尼两种测试模式，欠阻尼测试时，放电回路短路，不使用电阻负载，过阻尼测试时，使用较大的无感电阻作为放电负载；

6、 可以作为一个信号源，产生任意波形；

7、 通过示波器采集数据，并能直接计算储能密度；

8、 定制载样平台，可适用于陶瓷和薄膜样品测试；

9、 可以进行变温测试，RT~200℃；

10、 可以进行疲劳测试；

11、 还可用于化材料之用。