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　　1、本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

　　2、四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。

　　3、具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高的精度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。

　　4、测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。

　　5、用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到贰虫肠别濒中，让用户对数据进行各种数据分析。

　　二：高温四探针测试仪的特点：

　　1、采用双电测组合测量模式，不用进行系数修正。

　　2、可以测量高温、真空、气氛条件下薄膜方块电阻和薄层电阻率。

　　3、可以分析方块电阻和电阻率随温度变化的曲线。

　　4、可以自动调节施加在样品的测试电压，以防样品击穿。

　　5、高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻。

　　6、球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（滨罢翱膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。

　　7、配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻。

　　8、探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

　　总结：高温四探针测试仪的应用及特点小编就知道这么多，看完本文您就应该有了基本的认识和了解相信大家都明白了吧！总的来说，希望对大家有所帮助。