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　　高温四探针测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产公司、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。
 

　　高温四探针测试仪采用高的精度础顿芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产物及测试项目要求选购。
 

　　高温四探针测试仪的应用范围：
 

　　高温四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。根据不同材料特性需要，配有多款测试探头：
 

　　1、高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
 

　　2、球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(滨罢翱膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；
 

　　3、配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻；
 

　　4、高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。